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特點: » 適用於各種形狀的樣品 » 適用極小間距的樣品 » 搭配數位顯微鏡/XY軸高精度測試平台檢測 » 符合多個國際測試規範: EIA/JEDEC, AEC, EOS » 檢測HBM/MM (或是CDM 模式 EMD-625 CDM) » 升級選配高達8KV的HBM 測試電壓 » 升級選配半自動量測
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特點: »可檢測HBM/ MM/ Latch-up/ CDM (D-CDM / F-CDM) »符合多個國際測試規範: JEITA, MIL, ESDA, EIA/JEDEC, AEC » 可達到1350針對測試(需使用專用DUT測試板) » 高規格3軸定位系統 » 高達8KV的HBM 測試電壓 » Latch-up高穩定性三電源供給Max-Hi/ Min-Low/ Vector » 高達4KV的CDM測試電壓 » 高精度CCD對位裝置對應CDM檢測
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特點: » 測試腳位: 128/ 256/ 512/ 1024 » 最多可依次測試 10個裝置 » ESD 靜電模擬測試: - 符合多個ESD國際測試規範: JEITA, MIL, ESDA, EIA/JEDEC, AEC - 可進行腳位組合測試 - 高達8KV的HBM 測試電壓 - 高規儀表損傷檢測 - 可選配自動ESD 波型檢測 » Latch-up 閉鎖效應測試: - 符合多個Latch-up國際測試規範: JEITA, EIA/JEDEC, AEC - DUT 穩定性高 - 高達10個閉鎖檢測電源(6個內部+4個外部) - 可選配高溫測試( 155 ˚C) - 可選配進行動態測試
