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特點: » 量測範圍: 4m ~ 400 ohm/sq (依據不同機型有不同的量測範圍4m ~ 40K ohm/sq) » 量測精度: ± 1.0 % of reading » 顯示解析度: 3½ digits » 探針間距: 1.0 ~ 5.0 mm (依不同探頭選擇) » 探針半徑: 100 ~ 700 ㎛ (依不同探頭選擇) » 適合量測各式導電薄膜, 金屬膜, ITO, 導電高分子材料,….
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特點: »適合產業: Solar Cell, Silicon Wafer, Touch Panel, Etc... » 量測產品: Silicon wafer, conductive layer on glass/film and more, thin film (ito, izo, lcd, solar cell...) » 量測範圍: 1m ~ 1G ohm/sq; 10.0μohm.cm ~ 10.0M ohm.cm » 量測精度: 0.5% at KRISS Standard wafer, when 23℃ » 具2D/3D mapping 功能, 量測點位可設定 » 金屬膜厚度換算功能 » 晶圓尺寸: Max 8 inch wafer » 高質感觸控面板顯示介面
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特點: »適合產業: Solar Cell, Silicon Wafer, Touch Panel, Etc... » 量測產品: Silicon wafer, conductive layer on glass/film and more, thin film (ito, izo, lcd, solar cell...) » 量測範圍: 1m ~ 1G ohm/sq; 10.0μohm.cm ~ 10.0M ohm.cm » 量測精度: 0.5% at KRISS Standard wafer, when 23℃ » 具2D/3D mapping 功能, 量測點位可設定 » 金屬膜厚度換算功能 » 晶圓尺寸: Max 12 inch wafer » 高質感觸控面板顯示介面
