-
特點: » 即時判定晶圓參雜極性P型或N 型 » 電阻率範圍: 0.001Ω-cm ~ 1500Ω-cm (minimum 1Ω-cm for Pin probe) » Pin probe: 適用各種晶圓 » Hot probe: 適合晶棒, 矽晶塊
-
特點: » 日本製/ 高性能/ 高品質/ 使用壽命長 » 可直接替代使用Jandel 探頭的各品牌四點探針 » 提供換針服務, 降低成本, 提高使用年限 » 可根據不同材料選用合適的探頭規格做穩定的量測 » 探頭規格: 針尖半徑, 針頭材質, 負重, 探針間距,... (附原廠出貨檢測報告) ✽ 歡迎提供樣品測試 ✽
-
特點: » 高精度四點探針, 日本NPS公司生產製造, 適合半導體材料, 各種導電薄膜材料,...等多種應用 » 量測線電阻, 面電阻(片電阻), 體積電阻(電阻率) » 量測範圍: 線電阻<1.0000 mΩ~ 500.00 kΩ> 面電阻<1.000 mΩ/□~ 5000.0 k Ω/□> 電阻率<1.0000 mΩ-cm ~ 500.00 kΩ-cm > » 量測精度: ±0.2% » 輸入厚度值: 0.1~9999.9μm » 自動歸零調整 » 量測檔位自動偵測 » 矽晶圓溫度補償功能 » 可輸入溫度修正因數 » 可連接列印機, 即時提供量測數據標籤 » 搭配軟體透過RS-232 將量測數據輸出 » 可搭配手持式探頭HP-01, 手動壓桿式平台RG-5, 自動下針平台RGE-12W, 等各種量測治具平台
