特點:
» 適用於各種形狀的樣品 » 適用極小間距的樣品 » 搭配數位顯微鏡/XY軸高精度測試平台檢測 » 符合多個國際測試規範: EIA/JEDEC, AEC, EOS » 檢測HBM/MM (或是CDM 模式 EMD-625 CDM) » 升級選配高達8KV的HBM 測試電壓 » 升級選配半自動量測