特點:
» 量測範圍: 4m ~ 400 ohm/sq (依據不同機型有不同的量測範圍4m ~ 40K ohm/sq)
» 量測精度: ± 1.0 % of reading
» 顯示解析度: 3½ digits
» 探針間距: 1.0 ~ 5.0 mm (依不同探頭選擇)
» 探針半徑: 100 ~ 700 ㎛ (依不同探頭選擇)
» 適合量測各式導電薄膜, 金屬膜, ITO, 導電高分子材料,….
特點:
» 量測範圍: 4m ~ 400 ohm/sq (依據不同機型有不同的量測範圍4m ~ 40K ohm/sq)
» 量測精度: ± 1.0 % of reading
» 顯示解析度: 3½ digits
» 探針間距: 1.0 ~ 5.0 mm (依不同探頭選擇)
» 探針半徑: 100 ~ 700 ㎛ (依不同探頭選擇)
» 適合量測各式導電薄膜, 金屬膜, ITO, 導電高分子材料,….