特點:

» 適用於各種形狀的樣品
» 適用極小間距的樣品
» 搭配數位顯微鏡/XY軸高精度測試平台檢測
» 符合多個國際測試規範: EIA/JEDEC, AEC, EOS
» 檢測HBM/MM (或是CDM 模式 EMD-625 CDM)
» 升級選配高達8KV的HBM 測試電壓
» 升級選配半自動量測